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負載柜系列
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HID鎮(zhèn)流器異常狀態(tài)試驗電阻柜是按照標準要求而設計即滿足IEC60598-1：2008和GB 7000.1-2007版標準附錄C的圖C.3的HID整流效應試驗方法；模擬HID鎮(zhèn)流器在半波電流作用下安全性良好與否。
TEL：13580909432
0769-830013300769-83001330
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